工業(yè)內(nèi)窺鏡檢測(cè)的目的是發(fā)現(xiàn)缺陷并及做出正確處理決策，但有時(shí)僅僅發(fā)現(xiàn)缺陷還不夠，缺陷的嚴(yán)重程度也是決策的重要因素，特別是對(duì)于一些處于臨界狀態(tài)的缺陷，當(dāng)依賴(lài)主觀經(jīng)驗(yàn)并不可靠時(shí)，缺陷測(cè)量功能帶來(lái)的定量分析能力，讓檢測(cè)決策更靠譜。本文介紹工業(yè)內(nèi)窺鏡測(cè)量缺陷的注意事項(xiàng)。

由于缺陷測(cè)量方法有多種，有的存在一些操作方面的要求，因此要額外關(guān)注測(cè)量缺陷時(shí)的注意事項(xiàng)，例如：采用投射陰影線(xiàn)的陰影測(cè)量法，注意被測(cè)物表面應(yīng)盡可能與探頭垂直；雙物鏡測(cè)量法沒(méi)有上述垂直要求，但是要注意觀察和測(cè)量所用鏡頭不同，需要更換鏡頭，此外還需避免出現(xiàn)點(diǎn)漂移引入的人為誤差，以免影響測(cè)量精度。

韋林百萬(wàn)高清工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載的單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)，是目前先進(jìn)的工業(yè)內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù)，很好地解決了上述測(cè)量技術(shù)的弊端，優(yōu)勢(shì)包括：基于光柵主動(dòng)投射技術(shù)，無(wú)需探頭垂直或接觸被測(cè)物體表面；整個(gè)檢測(cè)過(guò)程無(wú)需進(jìn)行鏡頭的更換和缺陷的重新定位；3D點(diǎn)云模型的重建，降低了人為因素可能導(dǎo)致的誤差，測(cè)量更為精準(zhǔn)。

下面列舉一些測(cè)量缺陷的注意事項(xiàng)及操作技巧：

1. 抓取測(cè)量圖片時(shí)讓探頭與被測(cè)表面保持約3秒鐘左右的相對(duì)靜止；

2. 針對(duì)高反光的區(qū)域抓取圖像時(shí)，要選擇到合適的角度，例如：45°角，避免90°直射，以降低反光對(duì)光柵掃描產(chǎn)生的影響，尤其是針對(duì)壓氣機(jī)葉片等高反光部件，盡量避免直視，盡可能選擇一定的角度進(jìn)行拍攝；

3. 為了保證精度，相位掃描三維立體測(cè)量系統(tǒng)在精度下降區(qū)域顯示為黃色，如條件允許盡量避免在黃色區(qū)域進(jìn)行測(cè)量操作；

4. 保持測(cè)量鏡頭端部相位光柵區(qū)域的清潔，不被沾污，防止影響掃描結(jié)果，進(jìn)而影響測(cè)量精度；

5. 由于系統(tǒng)掃描完成之后需要進(jìn)行數(shù)學(xué)模型的重構(gòu)，進(jìn)行大量的數(shù)據(jù)運(yùn)算，此時(shí)請(qǐng)耐心等待約1到2秒鐘的時(shí)間；

6. 測(cè)量時(shí)，MTD值即物距顯示，通常不超過(guò)25mm，以保證測(cè)量的準(zhǔn)確度。

關(guān)于工業(yè)內(nèi)窺鏡測(cè)量缺陷的注意事項(xiàng)先給您介紹到這里，關(guān)于各種測(cè)量技術(shù)的詳情，您可以閱讀以下推薦的文章。上圖是使用韋林單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)測(cè)量缺陷的示意圖，該測(cè)量技術(shù)在測(cè)量鏡頭的視野角度及焦距、3D數(shù)字點(diǎn)云立體建模測(cè)量分析功能、測(cè)量模式、以及與3D打印技術(shù)相融合等方面，都有不俗的創(chuàng)新或明顯的改善，讓檢測(cè)流程更流暢，測(cè)量手段更多樣化，結(jié)果更精準(zhǔn)可靠，有效提高了內(nèi)窺鏡檢測(cè)的效率及質(zhì)量。

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