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韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡XLG4相位掃描3D測(cè)量技術(shù)優(yōu)勢(shì)及用途

2020-10-20 09:40:24

韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡XLG4,也稱MViQ,是韋林視頻內(nèi)窺鏡的旗艦產(chǎn)品,功能及性能都是業(yè)內(nèi)產(chǎn)品中的佼佼者,特別是相位掃描3D測(cè)量(相位掃描三維立體測(cè)量)功能,將內(nèi)窺鏡的缺陷測(cè)量能力提升到了新的水平,本文總結(jié)相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)優(yōu)勢(shì)及用途。

韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡XLG4的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù),利用3D光柵相位掃描測(cè)量的原理,通過(guò)光柵投影在被檢對(duì)象表面產(chǎn)生條紋(這些條紋在三維空間內(nèi)反映出腐蝕、裂縫、凹凸等造成的幾何形狀變化),由CCD 攝像頭攝取這些條紋信息后,對(duì)物體的輪廓進(jìn)行重構(gòu)得到三維輪廓數(shù)據(jù),使得三維空間內(nèi)的缺陷測(cè)量更精準(zhǔn)。

韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡XLG4相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)

韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡XLG4的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì)及用途:

1. 測(cè)量時(shí)無(wú)需換鏡頭發(fā)現(xiàn)缺陷就地測(cè)量,提高孔探效率。

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2. 有助于精準(zhǔn)打點(diǎn)。實(shí)時(shí)三維立體還原缺陷及測(cè)量打點(diǎn)位置,保證測(cè)量打點(diǎn)位置的準(zhǔn)確度提高測(cè)量精確度,解決以前二維平面模式下打點(diǎn)時(shí)由于拍攝角度問(wèn)題造成的視覺(jué)錯(cuò)覺(jué)導(dǎo)致的打點(diǎn)位置錯(cuò)誤,測(cè)量結(jié)果偏差大的困惑。

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3. 可協(xié)助糾正選取最佳測(cè)量模式,避免因模式選錯(cuò)引入測(cè)量誤差。

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4. 相位測(cè)量技術(shù)帶有新增多種測(cè)量模式,其中深度剖面模式可自動(dòng)計(jì)算凹坑深度。

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5. 區(qū)域深度剖面模式,可以實(shí)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)缺陷深度的快速準(zhǔn)確計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)量,解決傳統(tǒng)雙物鏡人工試驗(yàn)尋找最深點(diǎn)的復(fù)雜操作及每次測(cè)量可重復(fù)性差的難題, 不僅適用于平面上缺陷深度測(cè)量,還可以實(shí)現(xiàn)弧面上的缺陷深度自動(dòng)精確測(cè)量(如導(dǎo)向器或高壓渦輪葉片前緣損傷)。

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6. 測(cè)量平面模式,可通過(guò)一次測(cè)量同時(shí)準(zhǔn)確測(cè)得軸向及徑向損傷的長(zhǎng)度(無(wú)需測(cè)量?jī)纱吸c(diǎn)到線)。

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7. 正確識(shí)別表面破損的嚴(yán)重程度。

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韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡XLG4的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)優(yōu)勢(shì)及用途,不僅僅是上面列舉的這些,在實(shí)踐中還會(huì)有其他的更多驚喜??偟膩?lái)說(shuō),相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)不僅僅可以測(cè)量一些超大缺陷,而且新增多種測(cè)量模式應(yīng)對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部的實(shí)際檢測(cè),可以解決目前傳統(tǒng)的雙物鏡立體測(cè)量所不能解決的諸多測(cè)量難題。


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